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· 半导体器件检测仪
 
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共(90)个产品  每页(30)个  共(3)页
图片 名称/型号 品牌 价格 操作
 
集成电路测试系统 SHtek4250A
集成电路测试系统SHtek4250A
20V程控电源电压,驱动、比较电平和电压测量范围,可满足CD4000系列等高电压逻辑的数字电路测试要求
北京金三航 面议
半导体管特性图示仪 QT2
半导体管特性图示仪QT2
阶梯电流 1μA/级~200A/级,分17档;阶梯电压 0.05V级~1V/级,分5档
新建 面议
LCR测试仪 3511-50
LCR测试仪3511-50
高速测量:5ms(1kHz)或13ms(120Hz)
日本日置 面议
LCR测试仪 3522-50
LCR测试仪3522-50
宽频量程(DC或1mHz~100kHz)
日本日置 面议
LCR测试仪 3532-50
LCR测试仪3532-50
测试频率可在42Hz~5MHz宽广频率量程内以4位精确度自由调整
日本日置 面议
LCR测试仪 3535
LCR测试仪3535
100kHz~120MHz的宽频带
日本日置 面议
C测试仪 3501
C测试仪3501
测量量程:300 pF ~ 10,000 μF
日本日置 面议
C测试仪 3504
C测试仪3504
输出电阻:5Ω(CV1V, CV500mV 开路端子电压模式,上述测量范围以外)
日本日置 面议
C测试仪 3504-10
C测试仪3504-10
输出电阻:5Ω(CV1V, CV500mV 开路端子电压模式,上述测量范围以外)
日本日置 面议
晶闸管综合参数测试仪 shtek2400
晶闸管综合参数测试仪shtek2400
型晶闸管综合参数测试仪是用于测量晶闸管的通态,断态门极常用静态参数的综合性参数测量仪器。
北京金三航 面议
电路板故障测试仪 GR4040
电路板故障测试仪GR4040
40路在线功能测试,40路V/I曲线测试,测试器件库覆盖种类达6万种,在WIN98,WIN2000,WINXP下都可以使用,多种接口方式:USB,并口等.测试速度快,稳定!
北京金三航 面议
电路板故障测试仪 GR4080
电路板故障测试仪GR4080
40路在线功能测试,80路V/I曲线测试,测试器件库覆盖种类达6万种,在WIN98,WIN2000,WINXP下都可以使用,多种接口方式:USB,并口等.测试速度快,稳定!可以双板测试测试对比,也可以将2个40路V/I通道并为80路使用,可测80管腿的IC
北京金三航 面议
电路板故障测试仪 GR8080
电路板故障测试仪GR8080特价~
80路在线功能测试,80路V/I曲线测试,测试器件库覆盖种类达9万种,在WIN98,WIN2000,WINXP下都可以使用,多种接口方式:USB,并口等.测试速度快,稳定!可以双板测试测试对比,也可以将2个40路V/I通道并为80路使用,可测80管腿的IC,三端器件在线/离线功能测试,稳压块在线/离线精确测试
北京金三航 面议
集成电路测试仪 ICT-33C
集成电路测试仪ICT-33C特价~
可测器件(1300多种)
北京金三航 ¥5300.00
数字集成电路多参数测试仪 GT2100A
数字集成电路多参数测试仪GT2100A
54 系列;4500 系列 /RAM 256K BIT /74 系列;40000 系列;/EPROM 64K BIT /4000 系列;C00 系列。 /光耦
北京金三航 ¥12800.00
模拟集成电路多参数测试仪 GT2200A
模拟集成电路多参数测试仪GT2200A
可测试16脚以内通用的模拟器件,包括运放、光耦、比较器、A/D、D/A、电压调节器及部分特殊模拟芯片
北京金三航 ¥21800.00
掌上型数位IC测试仪器 LP-1
掌上型数位IC测试仪器LP-1
TTL54/74,CMOS 40/45,DRAM 41/44
台湾力浦 ¥1980.00
掌上型线性IC测试仪器 LP-2
掌上型线性IC测试仪器LP-2
线性IC测试;显示:16×1字LCD;2. 测试元件接脚数:14到24PIN;测试电压:5V;体积:16×11×4.5cm;重量:0.34kg
台湾力浦 ¥5500.00
桌上型数字IC测试器 LPICT-6C
桌上型数字IC测试器LPICT-6C
超过1800个数字元件测试
台湾力浦 ¥11500.00
线性IC测试仪 LPICT-7A
线性IC测试仪LPICT-7A
模拟电路功能测试
台湾力浦 ¥21500.00
ABI手持式数字IC测试器 ChipMaster
ABI手持式数字IC测试器ChipMaster
40脚以下的数字芯片和存储器、接口芯片、MCU/MPU
英国ABI 面议
ABI手持式线性IC测试器 LinearMaster
ABI手持式线性IC测试器LinearMaster
可测试16脚以内通用的模拟器件,包括运放、光耦、比较器、A/D、D/A、电压调节器及部分特殊模拟芯片
英国ABI ¥12800.00
ABI记忆芯片测试仪 PT3100
ABI记忆芯片测试仪PT3100
脚以内SRAM、DRAM、30线以内SIMM、SIP,测试容量:16K-116M
英国ABI 面议
运放测试仪 BJ3190A
运放测试仪BJ3190A
可对各种单运放的常用参数进行测量
北无仪 ¥9500.00
运算放大器测试仪 BJ3192A
运算放大器测试仪BJ3192A
测试各种运算放大器参数15项,电压比较器9项
北无仪 面议
运算放大器测试仪 BJ3195
运算放大器测试仪BJ3195
可测试A/D,D/A,集成运放,电压比较器,模拟开关等模拟器件
北无仪 面议
三端稳压器测试仪 BJ3196
三端稳压器测试仪BJ3196
测量三端稳压器六个参数
北无仪 面议
存储器IC测试仪 IST-6500
存储器IC测试仪IST-6500
对DRAM、SIMM、SRAM、VRAM、及PCMCIA卡提供即时的功能分析测试。提供多种测试模式
美国IST 面议
数字集成电路多参数筛选测试仪 SIMI100
数字集成电路多参数筛选测试仪SIMI100
数字集成电路多参数筛选测试
北京金三航 ¥12800.00
模拟电路多参数筛选测试仪 SIMI3198
模拟电路多参数筛选测试仪SIMI3198
单运放、多运放和电压比较器的测量
北京金三航 ¥22800.00
 
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