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| 详细资料 | ||||||||
| 产品说明： TT230本仪器是一种超小型的测量仪，它能快速、无损伤、精颏地进行非磁性金属基体上非导电覆层厚度的测量。可广泛用于制造业、金属加工业、商检等检测领域。由于该仪器体积小，测头与仪器一体化，特别适用于工程现场测量。 TT230本仪器是一种超小型的测量仪，它能快速、无损伤、精颏地进行非磁性金属基体上非导电覆层厚度的测量。可广泛用于制造业、金属加工业、商检等检测领域。由于该仪器体积小，测头与仪器一体化，特别适用于工程现场测量。 主要功能： 可进行零点校准及二点校准。 可对测头进行基本校准。 设有五个统计量：平均值（MEAN）、最大值（MAX）、最小值（MIN）、测试次数（NO）、标准偏差（S.DEV）。可存贮和统计计算15个测量值。 具有两种测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）。 自动关机功能。 删除功能：对测量中出现的单次可疑数据进行删除，也可删除存贮区内的所有数据，以便进行新的测量。 操作过程有蜂鸣声提示。 有欠压指示功能。 有错误提示功能。 可进行零点校准及二点校准。 可对测头进行基本校准。 设有五个统计量：平均值(MEAN)、最大值(MAX)、最小值(MIN)、测试次数(NO)、标准偏差(S.DEV)。可存贮和统计计算15个测量值。 具有两种测量方式：连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE)。 自动关机功能。 删除功能：对测量中出现的单次可疑数据进行删除，也可删除存贮区内的所有数据，以便进行新的测量。 操作过程有蜂鸣声提示。 有欠压指示功能。 有错误提示功能。 主要技术指标： 测量原理：涡流法 测量范围：1～1250μm 测量精度：±（3%H+1.5）μm（零点校准） ±[(1～3)%H+1.5] μm（二点校准） |
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| 产品图片 | ||||||||
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